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SNJ54BCT8374AFK
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专业逻辑
Texas Instruments
SCAN TEST DEVIC
管子
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专业逻辑
Texas Instruments
SCAN TEST DEVIC
管子
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产品参数
PDF(1)
类型
描述
制造商
Texas Instruments
系列
54BCT
包裹
管子
产品状态
ACTIVE
包装/箱
28-CLCC
安装类型
Surface Mount
位数
8
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
工作温度
-55°C ~ 125°C
电源电压
4.5V ~ 5.5V
供应商设备包
28-LCCC (11.43x11.43)
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