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集成电路 (IC)
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SN74LVTH18504APM
SN74LVTH18504APM
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SN74LVTH18504APM
专业逻辑
Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DE
托盘
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SN74LVTH18504APM
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SN74LVTH18504APM
专业逻辑
Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DE
托盘
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产品参数
类型
描述
制造商
Texas Instruments
系列
74LVTH
包裹
托盘
产品状态
ACTIVE
包装/箱
64-LQFP
安装类型
Surface Mount
位数
20
逻辑类型
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
工作温度
-40°C ~ 85°C
电源电压
2.7V ~ 3.6V
供应商设备包
64-LQFP (10x10)
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