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集成电路 (IC)
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SN74BCT8373ADWRG4
SN74BCT8373ADWRG4
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SN74BCT8373ADWRG4
专业逻辑
Texas Instruments
IC SCAN TEST DE
卷带式 (TR)
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$5.7267
$11,453.4000
SN74BCT8373ADWRG4
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SN74BCT8373ADWRG4
专业逻辑
Texas Instruments
IC SCAN TEST DE
卷带式 (TR)
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产品参数
PDF(1)
类型
描述
制造商
Texas Instruments
系列
74BCT
包裹
卷带式 (TR)
产品状态
OBSOLETE
包装/箱
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
安装类型
Surface Mount
位数
8
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Latches
工作温度
0°C ~ 70°C
电源电压
4.5V ~ 5.5V
供应商设备包
24-SOIC
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