- 产品型号 SN74BCT8374ANTG4
- 品牌 Texas Instruments
- RoHS Yes
- 描述 IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- 分类 专业逻辑
库存:1500
技术细节
- 安装类型 24-DIP (0.300", 7.62mm)
- 匝数 Through Hole
- 注记 8
- 电压 Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- 扭矩 - 螺丝 0°C ~ 70°C
- 宽度 4.5V ~ 5.5V
- 最大交流电压 24-PDIP